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Tektronix Keithley オンライン・セミナ : 見逃した方必見~DC計測の基礎から半導体パラメトリック測定まで~

概要説明
DC計測の基礎~半導体パラメトリック測定まで、Keithley Days2021をはじめ、昨年開催したWebセミナで特に人気の高かった8セッションをピックアップして再度お送りします。

日 程:3月16日(水)~3月17日(木) 10:00~15:00

セッション詳細 

3月16日(水)
・ 不安や迷いを解消!最適なDC測定器の選び方
・ SiCとGaNコンポーネントに対しキーとなる5つのテスト
・ 恒温槽での信頼性試験と並列測定の手法
・ PLCによる計測器制御簡略化のヒント~通信・制御トラブルを最小限に
3月17日(木)
・ 半導体パラメータ・アナライザの基礎Webセミナ
  ~半導体パラメータ・アナライザを用いた電気特性評価の基礎を学ぶ~”
・ ケースレーの高電圧CV測定の総まとめ
・ ”新時代こそ重要!材料評価のための信頼性評価試験ソリューション 
・ SMU 実機デモで比較解説 ー SMUのDC電源/電子負荷性能について

【対象のお客様】
・ 半導体や電子部品の検査、製造メーカ
・ 半導体や電子部品の検査機器メーカ
・ 半導体、素材、バイオ関連の研究所、大学
*半導体はダイオード、トランジスタ、MOSFETなど、電子部品はセンサ、DC-DCコンバータ、バッテリ、光学センサなど